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- F10-RT-Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x
-Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x：以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo)，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜。 只需傳統(tǒng)價(jià)格的一小部分，用戶就能進(jìn)行低/高分析、確定 FWHM 并進(jìn)行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。測(cè)量結(jié)果能被快速地導(dǎo)出和打印。
- 型號(hào)：F10-RT
- 更新日期：2023-06-05 ￥面議
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- F10-HC-Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x
-Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x：以F20平臺(tái)為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測(cè)量系統(tǒng)，能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測(cè)量厚度，加上F10-HC軟件的模擬演算法的設(shè)計(jì)，能夠在厚膜中測(cè)量單層與多層（例如：底漆或硬涂層等）。
- 型號(hào)：F10-HC
- 更新日期：2023-06-05 ￥面議
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- F10-AR-Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x:F10-AR 是為簡(jiǎn)便而經(jīng)濟(jì)有效地測(cè)試眼科減反涂層設(shè)計(jì)的儀器。 雖然價(jià)格大大低于當(dāng)今絕大多數(shù)同類儀器，應(yīng)用幾項(xiàng)技術(shù)， F10-AR 使線上操作人員經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，就可以進(jìn)行厚度測(cè)量。
- 型號(hào)：F10-AR
- 更新日期：2023-06-05 ￥面議
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- F3-sX系列Filmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x
Filmetrics薄膜厚度測(cè)量?jī)x：F3-sX系列膜厚測(cè)量?jī)x利用光譜反射原理，可以測(cè)試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度，可測(cè)大厚度達(dá)3毫米。此類厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻，F(xiàn)3-sX系列配置10微米的測(cè)試光斑直徑因而可以快速容易的測(cè)量其他膜厚測(cè)試儀器不能測(cè)量的材料膜層。而且僅在幾分之一秒內(nèi)完成。
- 型號(hào)：F3-sX系列
- 更新日期：2023-08-25 ￥面議
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- Film Sense FS-1FS-1單波長(zhǎng)橢偏儀
Film Sense FS-1多波長(zhǎng)橢偏儀采用壽命長(zhǎng) LED 光源和非移動(dòng) 式部件橢偏探測(cè)器，可在操作簡(jiǎn)單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)快速和可 靠地薄膜測(cè)量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡(jiǎn)單的 1 秒測(cè)量，就 可以獲得非常精密和的數(shù)據(jù)。
- 型號(hào)：Film Sense FS-1
- 更新日期：2024-07-24 ￥面議
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- F37Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)厚儀
Filmetrics 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)厚儀 嵌入式在線診斷 免費(fèi)離線分析軟件 精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲(chǔ)，重現(xiàn)與繪制測(cè)量結(jié)果
- 型號(hào)：F37
- 更新日期：2024-08-08 ￥面議
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- F10-RTFilmetrics薄膜測(cè)量?jī)x
Filmetrics F10-RT 薄膜測(cè)量?jī)x同步測(cè)量薄膜的反射率/穿透率，F(xiàn)10-RT使Filmetrics的分析能力實(shí)現(xiàn)了同步測(cè)量反射率與穿透率。只要立即的鼠標(biāo)就能夠產(chǎn)生在客戶是定波長(zhǎng)范圍內(nèi)，得出Z大與Z小的反射率與穿透率。
- 型號(hào)：F10-RT
- 更新日期：2024-09-04 ￥面議
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- F3-sXFilmetircs 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
Filmetircs 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x 滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測(cè)試系統(tǒng)，如需了解更多 光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x膜厚測(cè)試儀 F3-sX 信息，咨詢。
- 型號(hào)：F3-sX
- 更新日期：2023-08-25 ￥面議
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