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- F10-RTFilmetrics 薄膜分析儀薄厚測量
Filmetrics F10-RT 薄膜分析儀薄厚測量 同步測量薄膜的反射率/穿透率，如需了解更多，查詢。。。。
- 型號：F10-RT
- 更新日期：2024-08-08 ￥面議
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- Filmetrics-F50美國Filmetrics F50 光學薄膜厚度測量儀
桌面式薄膜測厚儀美國Filmetrics F50 光學膜厚測量儀自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng) 依靠 F50的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得Z大直徑 450 毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。
- 型號：Filmetrics-F50
- 更新日期：2024-08-08 ￥面議
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- F40Filmetrics 光學薄膜測厚儀
Filmetrics 光學薄膜測厚儀 F40 結合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng) ，精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。
- 型號：F40
- 更新日期：2024-08-08 ￥面議
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- F60-tFilmetrics 光學膜厚測量儀
Filmetrics 光學膜厚測量儀 依靠 F60 的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標移動平臺，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。 在約 45 秒的時間就可以掃描完標準 49 點分布圖
- 型號：F60-t
- 更新日期：2024-08-08 ￥面議
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